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基于光干涉法的砂颗粒表面粗糙度量化表征
作者姓名:姚婷  黎伟  刘晓珊
作者单位:1. 中国科学院武汉岩土力学研究所岩土力学与工程国家重点实验室;2. 中国地质大学(武汉)工程学院;3. 湖北省交通规划设计院股份有限公司
基金项目:国家自然科学基金(42177154,42102327);
摘    要:研究表明表面粗糙度对颗粒材料排列、剪切和压缩特性都有一定影响,而目前对颗粒表面粗糙度量化描述的研究仍较缺乏。本文以商用玻璃珠(GB)和莱顿巴泽德砂(LBS)这两种不同材料为研究对象,采用光学干涉法获取颗粒表面结构,使用平均粗糙度Sa和均方根粗糙度Sq两个参数描述颗粒表面粗糙度,系统研究了取样尺寸和颗粒尺寸对粗糙度量化的影响规律。结果表明,在半对数坐标中,GB颗粒表面粗糙度均随取样尺寸增加呈近似线性增长,颗粒尺寸越小,增长速率越大;粒径较小LBS颗粒表面粗糙度与取样尺寸的关系和玻璃珠相似,而较大粒径LBS颗粒表面粗糙度先随取样尺寸增加而迅速增大,之后增长速率明显降低。同时,通过统计分析发现,较大粒径LBS颗粒表面粗糙度较低,其粒间表面粗糙度差异程度也较低,韦伯函数可以有效描述不同粒径LBS颗粒表面粗糙度的分布。

关 键 词:砂颗粒表面粗糙度  光学干涉  取样尺寸  颗粒尺寸  韦伯分布
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