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俄歇复合对应变量子阱激光器阈值电流的影响
引用本文:贾国治,姚江宏,刘国梁,柏天国,刘如彬,邢晓东. 俄歇复合对应变量子阱激光器阈值电流的影响[J]. 量子电子学报, 2007, 24(1): 105-109
作者姓名:贾国治  姚江宏  刘国梁  柏天国  刘如彬  邢晓东
作者单位:南开大学弱光非线性光子学材料先进技术及制备教育部重点实验室,信息光子材料与技术重点实验室,泰达应用物理学院,天津,300457;南开大学弱光非线性光子学材料先进技术及制备教育部重点实验室,信息光子材料与技术重点实验室,泰达应用物理学院,天津,300457;南开大学弱光非线性光子学材料先进技术及制备教育部重点实验室,信息光子材料与技术重点实验室,泰达应用物理学院,天津,300457;南开大学弱光非线性光子学材料先进技术及制备教育部重点实验室,信息光子材料与技术重点实验室,泰达应用物理学院,天津,300457;南开大学弱光非线性光子学材料先进技术及制备教育部重点实验室,信息光子材料与技术重点实验室,泰达应用物理学院,天津,300457;南开大学弱光非线性光子学材料先进技术及制备教育部重点实验室,信息光子材料与技术重点实验室,泰达应用物理学院,天津,300457
基金项目:国家自然科学基金(60476042)和长江学者和创新团队发展计划资助
摘    要:通过考虑不同因素对压应变和张应变量子阱激光器阈值电流和特征温度的影响,得到了俄歇复合和非俄歇复合对阈值电流起主要作用的转变温度Tc,小于Tc时,主要是非俄歇复合;大于Tc时,主要是俄歇复合,而且张应变量子阱激光器转变温度要比压应变量子阱激光器的转变温度要高;张应变量子阱激光器与压应变量子阱激光器相比,阈值电流更低,特征温度更高。

关 键 词:光电子学  俄歇复合  应变量子阱  阈值电流密度  特征温度
文章编号:1007-5461(2007)01-0105-05
收稿时间:2006-04-12
修稿时间:2006-05-23

Effect of Auger recombination on the threshold current of strained quantum well laser
JIA Guo-zhi,YAO Jiang-hong,LIU Guo-liang,BAI Tian-guo,LIU Ru-bing,XING Xiao-dong. Effect of Auger recombination on the threshold current of strained quantum well laser[J]. Chinese Journal of Quantum Electronics, 2007, 24(1): 105-109
Authors:JIA Guo-zhi  YAO Jiang-hong  LIU Guo-liang  BAI Tian-guo  LIU Ru-bing  XING Xiao-dong
Abstract:The temperature dependence of threshold current density is calculated by taking the carrier losses (Auger recombination and non-Auger recombination) into account in strained quantum well lasers. The characteristic temperature and threshold current density are compared between tensile-strained quantum well laser and compressive-strained quantum well laser. There is a conversation temperature point (To) between Auger recombination and non-Auger recombination. When T is higher than Tc, Auger recombination is leading; T is lower than Tc, the non-Auger recombination is leading. There is a higher conversation temperature, a lower threshold current density and a higher characteristic temperature in tensile strained quantum well laser than in compressive-strained quantum well laser.
Keywords:optoelectronics   Auger recombination   strained quantum well   threshold current density   characteristic temperature
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