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| ICP—AES法测定二氧化硅中的微量杂质元素 | |
| 引用本文： | 颜科,虞建平.ICP—AES法测定二氧化硅中的微量杂质元素[J].硅酸盐通报,1996,15(5):49-51. |
| 作者姓名： | 颜科 虞建平 |
| 摘 要： | 试样经硫酸－氢氟酸分解，在盐酸介质中用ＩＣＰ－ＡＥＳ法测定二氧化硅中的微量杂质元素。该方法与原子吸收法（ＡＡ）和分光光度法相比更为优越，其化学干扰少，操作简便，快速，重显性好，准确度高，测定结果的相对标准偏差（ＲＳＤ）小于５％。 |
| 关 键 词： | 二氧化硅 杂质元素 分光光度法 |
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