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| 双层锰氧化物薄膜中的应力效应 | |
| 引用本文： | 茶丽梅,张鹏翔,H.U.Habermeier. 双层锰氧化物薄膜中的应力效应[J]. 昆明理工大学学报(自然科学版), 2002, 27(6): 45-47,51 |
| 作者姓名： | 茶丽梅 张鹏翔 H.U.Habermeier |
| 作者单位： | 1. 昆明理工大学,光电子材料研究所,云南,昆明,650051 2. 昆明理工大学,光电子材料研究所,云南,昆明,650051;Max-Plank-Instltute,FKF,Stuttgart,Germany 3. Max-Plank-Instltute,FKF,Stuttgart,Germany;昆明理工大学,光电子材料研究所,云南,昆明,650051 |
| 基金项目： | 云南省科研基金(项目编号:1999E0003Z). |
| 摘 要： | 双层钙钛矿结构的La2-2xSr1 2xMn2O7(X=0.32)单相薄膜生长在具有不同晶格参数的两种衬底上，测量发现，两种衬底上生长的La2-2xSr1 2xMn2O7(X=0.32)薄膜具有迥然不同的金属－绝缘体转变温度TM－1及其他物性，界面应力的研究表明这是衬底晶格数不同引起膜内应变的结果，在衬底的压应力下，薄膜的电阻－温度曲线的峰值（TM－1）向高温移动且电阻率（ρ）下降；相反，对于衬底张力应力下的薄膜，TM－1下降ρ上升，这些结果可以用双交换模型做很好的解释。 |
| 关 键 词： | 双层锰氧化物薄膜 应力效应 双层钙钛矿结构 物理性质 双交换模型 |
| 文章编号： | 1007-855X(2002)06-045-04 |
The Strain Effect on Physical Properties of Bilayer Manganite Thin Films |
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| H.U.Habermeier. The Strain Effect on Physical Properties of Bilayer Manganite Thin Films[J]. Journal of Kunming University of Science and Technology(Natural Science Edition), 2002, 27(6): 45-47,51 | |
| Authors: | H.U.Habermeier |
| Abstract: | |
| Keywords: | bilayer manganite thin film stress |
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