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1.55μm InGaAsP/InPDH激光器中的0.95μm发光带与Auger复合
引用本文:夏瑞东,常悦,庄蔚华.1.55μm InGaAsP/InPDH激光器中的0.95μm发光带与Auger复合[J].中国激光,1994,21(7):545-548.
作者姓名:夏瑞东  常悦  庄蔚华
作者单位:首都师范大学物理系,中国科学院北京半导体所
摘    要:报道了在1.55μmInGaAsP/InP激光器中发现的0.95μm波长高能发光峰的一系列实验结果,并通过分析肯定了InGaAsP有源区的Auser复合是造成载流子向两侧InP限制层漏泄的主要原因,也是影响1.55μmInGaAsP/InPDH激光器T0值的主要因素。

关 键 词:1.55μmInGaAsP/InP激光器,Auger.复合,0.95μm发光,T0值,漏泄
收稿时间:1993/9/6

0.95 μm Luminous Strip And Auger Compound of 1.55 μm InGaAsP/InP DH Laser
Xia Ruidong,Chang Yue.0.95 μm Luminous Strip And Auger Compound of 1.55 μm InGaAsP/InP DH Laser[J].Chinese Journal of Lasers,1994,21(7):545-548.
Authors:Xia Ruidong  Chang Yue
Abstract:A series of experment results about 0.95 μm Wavelength high energy luminous peak in 1.55 μm InGaAsP/InP laser ware reported in this paper.And by physics analysis to these data,we can be sured that the Auger compound of InGaAsP active region is the major cause of carrier leakage toward the two sides of InP restricted layer.It is also the major factor to reduce the To of 1.55 μm InGaAsP/InP DH laser.
Keywords:0  95 μm InGaAsP/InP DH laser  Auger compound  0  95 μm luminous  T0  leakage
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