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| 单粒子瞬态效应硬件注入模型实现和仿真 | |
| 引用本文： | 周婉婷,靳丽娜,叶世旺.单粒子瞬态效应硬件注入模型实现和仿真[J].微电子学与计算机,2014(9). |
| 作者姓名： | 周婉婷 靳丽娜 叶世旺 |
| 作者单位： | 电子科技大学电子科学技术研究院; |
| 摘 要： | 基于量化组合逻辑门延迟思想和扫描测试的方法,提出了一种适用于FPGA硬件模拟单粒子瞬态效应的门级注入模型.该模型考虑了电气掩蔽效应对脉冲传输的影响,通过该模型可以对组合电路任意逻辑门进行错误注入.基于该模型对ISCAS’85基准电路进行单粒子瞬态的研究,实验结果表明该脉冲产生方法高效,注入速度达到105 faults/s. |
| 关 键 词： | 单粒子瞬态效应 扫描测试 FPGA 硬件模拟 |
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