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原子力显微轮廓仪系统的研究
引用本文:赵君臣,章海军,张冬仙,林晓峰. 原子力显微轮廓仪系统的研究[J]. 光电子.激光, 2006, 17(7): 841-844
作者姓名:赵君臣  章海军  张冬仙  林晓峰
作者单位:浙江大学,现代光学仪器国家重点实验室,浙江,杭州,310027;浙江大学,现代光学仪器国家重点实验室,浙江,杭州,310027;浙江大学,现代光学仪器国家重点实验室,浙江,杭州,310027;浙江大学,现代光学仪器国家重点实验室,浙江,杭州,310027
摘    要:研制了原子力显微镜(AFM)轮廓仪,介绍了AFM轮廓仪的基本原理和系统设计,并展示了多孔Al2O3薄膜、MgAl2O4薄膜和TiN薄膜的表面轮廓图。跟普通光学轮廓仪相比,该系统不需要进行复杂的光路调整,避免了光学元器件带来的误差,且工作行程不受光学孔径的制约,具有操作简单、抗干扰能力强和工作行程大的优点。实验表明,该系统具有良好的重复性、稳定性,横向分辨率为1μm,纵向分辨率为1nm。

关 键 词:原子力显微镜(AFM)  步进电机  轮廓仪  纳米
文章编号:1005-0086(2006)07-0841-04
收稿时间:2005-09-23
修稿时间:2005-09-232005-12-10

Research of the Atomic Force Microscopy Profilometer System
ZHAO Jun-chen,ZHANG Hai-jun,ZHANG Dong-xian,LIN Xiao-feng. Research of the Atomic Force Microscopy Profilometer System[J]. Journal of Optoelectronics·laser, 2006, 17(7): 841-844
Authors:ZHAO Jun-chen  ZHANG Hai-jun  ZHANG Dong-xian  LIN Xiao-feng
Affiliation:State Key Laboratory of Modern Optical Instruments, Zhejiang University, Hangzhou 310027, China
Abstract:
Keywords:atomic foree microscopy(AFM)  step motor  profilometer  nanometer
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