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倒装芯片底部填充工艺
引用本文:梁凤梅.倒装芯片底部填充工艺[J].电子工艺技术,2000,21(6):252-254.
作者姓名:梁凤梅
作者单位:太原理工大学,山西,太原,030024
摘    要:从热疲劳故障的角度论述了倒装芯片底部填充的必要性,介绍了倒装芯片底部填充的参数控制。通过正确的底部填充,可提高倒装芯片组装的成品率和可靠性。

关 键 词:集成电路  倒装芯片  底部填充工艺  热疲劳故障

Flip Chip Underfill Technology
LIANG Feng-mei.Flip Chip Underfill Technology[J].Electronics Process Technology,2000,21(6):252-254.
Authors:LIANG Feng-mei
Abstract:Discuss the necessary of flip chip underfill to thermal fatigue failures.Put forward controlling parameter for flip chip underfill.Then show that correct underfill can dramatically increase thermal reliability.
Keywords:Flip chip  Reliability  Manufacture subsidiary  
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