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| 边界扫描测试——复杂MCM的主流测试技术 | |
| 作者姓名： | 郭学仁 |
| 作者单位： | 桂林电子工业学院电子工程系,广西桂林 |
| 摘 要： | ＩＥＥＥ－１１４９．１测试标准已被认为是解决复杂ＭＣＭ和ＰＣＢ测试问题的主流测试技术。本文概要论及与测试相关的设计特性，详细讨论了不同ＭＣＭ的边界扫描测试策略。 |
| 关 键 词： | 可测性 边界扫描 MCM 多芯片模块 集成电路 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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