采用多谱拟合(MSF)技术测定钼原料及钼制品中的砷 |
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作者姓名: | 张萍 |
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作者单位: | 自贡硬质合金有限责任公司 |
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摘 要: | 在用电感耦合测定等离子体发射光谱测定三氧化钼、钼酸铵中砷,因其发射强度低,钼基体干扰严重,而使测定精密度和准确度不理想。本文采用多重谱线拟合(MSF)技术扣除光谱干扰测定三氧化钼、钼酸铵中的砷。采用过氧化氢溶解试样,以柠檬酸络合钼基体,在稀硝酸介质中测定砷含量。测定范围:0.0010%-0.10%。
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关 键 词: | 多谱拟合 发射光谱 钼 砷 |
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