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| 复杂的数字器件推动灵活的工程验证测试系统的使用 | |
| 作者姓名： | StevenKasapi |
| 作者单位： | 科利登系统公司子公司Optonics公司 |
| 摘 要： | 简介 为了分析目前高性能数字集成电路,工程师需要结合了灵活全速的数字测试能力和交互式工程环境的专用工程验证测试系统.这些工程验证测试系统与光学节点级诊断系统相结合,可以帮助领先的半导体制造商快速地完成复杂的调试和失效分析任务. |
| 关 键 词： | 数字器件 工程验证测试系统 数字集成电路 生产测试 |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |