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窄禁带半导体的自由载流子吸收
作者姓名:Bely.  AE
作者单位:Institute of Semiconductors,Academy of Sciences of the Ukrainian SSR,Institute of Semiconductors,Academy of Sciences of the Ukrainian SSR,Institute of Physics,Academy of Sciences of the Ukranian SSR Prospect Nauki 45,Kiev-28 252650 USSR,Prospect Nauki 45,Kiev-28 252650 USSR,Prospect Nauki 46,Kiev-28 252028 USSR
摘    要:从理论和实验上研究了77K和300K温度下,本征型半导体InSb,Hg_(1-x)Cd_xTe,Hg_(1-x)Mn_xTe和高掺杂Hg_(1-x)Cd_xTe在2.5~50μm波段范围内的自由载流子吸收,结果表明:对于所研究的三种本征型样品,均是极性光学声子散射起主要作用,对于InSb还应考虑声学声子和电离杂质散射。对有缺陷的Hg_(1-x)Mn_xTe样品,理论计算的自由载流子吸收系数与实验值不一致,表明存在附加的散射机制,对高掺杂Hg_(1-x)Cd_xTe的研究证实了这一假设。还讨论了非弹性电子-声子散射机制的起因,估算了特性参数。

关 键 词:窄禁带  半导体  自由载流子

FREE CARRIER ABSORPTION IN NARROW-GAP SEMICONDUCTORS
Bely.,AE.FREE CARRIER ABSORPTION IN NARROW-GAP SEMICONDUCTORS[J].Journal of Infrared and Millimeter Waves,1991,10(4):241-245.
Authors:A E BELYAEV  N V SHEVCHENKO
Abstract:
Keywords:narrow band gap semiconductors  free carrier absorption  scattering  
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