绝缘子沿面局部放电的光电探测效率分析研究

为了实现荧光光纤局部放电检测系统的开发，针对绝缘子沿面放电光辐射特性，对荧光光纤光电测量系统关键性能和匹配效率进行了对比分析。通过试验获得了绝缘子沿面放电光谱主要成分、特征谱线和随放电强度变化的光谱统计范围，并结合绝缘子沿面放电发射光谱、荧光光纤激发光谱、光纤的捕获效率，对比分析了两种荧光光纤对局部放电的荧光激发效率，得到了两种典型聚苯乙烯（PS）荧光光纤的激发强度和激发效率。结果表明：激发光谱为299～477 nm的光纤要优于294～410 nm的光纤；R3896型光电倍增器（PMT）与荧光光纤系统结合匹配效率更优，PMT在最优驱动偏压下信噪比（SNR）达到峰值12.45 dB；在最优驱动偏压下自然散热系统的自温漂效应大致为7%，冷却恢复时间大致为40 min。