| MCM 测试策略 |
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| 引用本文： | 金娜,郭志扬. MCM 测试策略[J]. 微处理机, 2002, 0(1): 16-18,22 |
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| 作者姓名： | 金娜 郭志扬 |
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| 作者单位： | 东北微电子研究所,沈阳,110032 |
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| 摘 要： | 首先分析了MCM的测试难度,针对“KGD”问题,阐述了电路在圆片级,小裸片级测试的构思和具体实施方法。讨论了基于边界扫描技术的测试方法,强调了可测试设计技术,从而提出了MCM的测试策略。
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| 关 键 词： | MCM KGD 边界扫描技术 可测性设计 测试策略 集成电路 |
The Test Strategies for the MCM |
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| Jin Na,et al. The Test Strategies for the MCM[J]. Microprocessors, 2002, 0(1): 16-18,22 |
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| Authors: | Jin Na et al |
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| Abstract: | The difficulties of MCM test are analyzed at first.The test ideas of wafer level and bare-die level about "KGD" are expounded.The method of testing at assembly levels using boundary scan technique is discussed.The design technology of testability is emphasized.The test strategies are put for ward. |
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