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| 基于BST技术的ASIC技术 | |
| 作者姓名： | 吴兰臻 樊桂花 |
| 作者单位： | 装备指挥技术学院，北京101416 |
| 摘 要： | 专用集成电路（ASIC）的测试需要设计一个专用测试集，测试过程复杂且成本高。而采用边界扫描测试技术设计ASIC，其测试过程简便快捷，不需要复杂和昂贵的测试设备，可降低成本，提高产品质量。 |
| 关 键 词： | JTAG标准 边界扫描测试 专用集成电路 设计 BST技术 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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