| GB/T 3323—2005与JB/T 4730.2—2005标准的对比解析(续) |
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| 引用本文： | 强天鹏. GB/T 3323—2005与JB/T 4730.2—2005标准的对比解析(续)[J]. 无损检测, 2008, 30(2): 115-117 |
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| 作者姓名： | 强天鹏 |
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| 作者单位： | 江苏省特种设备安全监督检验研究院,南京,210003 |
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| 摘 要： | 9像质计(IQI)9.1对比内容GB/T3323采用线型像质计和阶梯孔型像质计,引用标准EN462-1《射线照相影像质量第一部分:概念,丝型像质计及像质数值的确定》和EN462-2《射线照相影像质量第二部分:概念,阶梯孔型像质计及像质数值的确定》。JB/T4730.2只采用线型像质计(普通和专用(等径丝)像质计两种)。引用标准JB/T7902—1999《线型像质计》和HB7684—2000《射线照相用线型像质计》以及附录F《专用像质计》。9.2内容解析(1)GB/T3323与JB/T4730.2关于像质计规定的差异在于①JB/T4730.2未采用孔型像质计,主要考虑孔型像质计应用不普遍,推广无必要。②GB/T3323容许使用“射线吸收系数小于被检材料”的像质计,ASME也容许使用比被透照材料射线吸收性能低的合金材料制作的像质计,但JB/T4730.2无类似规定。(2)实际使用时,铁(Fe)像质计可用于镍(Ni)、铜(Cu)材料的照相;不可用于钛(Ti)、铝(Al)材料的照相。(3)JB/T4730适用的厚度扩大到2~400mm,其引用标准JB/T7902—1999规定的金属丝直径范围不能满足要求,故当时引用H...
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| 关 键 词： | 引用标准 Standard Examination Analysis Comparison 数值 影像质量 射线照相 孔型 阶梯 线型 像质计 |
| 文章编号： | 1000-6656(2008)02-0115-03 |
Comparison and Analysis of Radiographic Examination Standard GB/T 3323-2005 and JB/T 4730.2-2005(Continuation) |
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| QIANG Tian-Peng. Comparison and Analysis of Radiographic Examination Standard GB/T 3323-2005 and JB/T 4730.2-2005(Continuation)[J]. Nondestructive Testing, 2008, 30(2): 115-117 |
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| Authors: | QIANG Tian-Peng |
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| Affiliation: | QIANG Tian-Peng(Jiangsu Province Special Equipment Safety Supervision Inspection Institute; Nanjing 210003; China); |
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| Abstract: | |
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