中子孔隙度测井井眼影响补偿的新方法 |
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引用本文: | 陈雷 Evans,M.中子孔隙度测井井眼影响补偿的新方法[J].测井与射孔,2000(3):59-63. |
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作者姓名: | 陈雷 Evans M |
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摘 要: | 中子孔隙度测井受到诸如井眼尺寸、形状及仪器状态等不利影响,为补偿这些影响,仪器采用两个探测器:一个位于离源较远的位置用于测量地层孔隙度,另一个位于离源较近的位置用于测量几何形状变化影响。用长短源距计数率相比来减小受到的几何影响,但这还不够,还必须对井眼尺寸、形状及仪器状态等进行校正。通过修改长短源距计数比率,确定长源距探测井计数率函数,使两个探测器在仪器附近有近似的径向响应,提高对几何改变的补偿。
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关 键 词: | 中子孔隙度 测井 放射性测井 井眼影响补偿 |
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