| CdGd2（WO2）4晶体的高分辨电子显微研究 |
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| 引用本文： | 孙威,孙桂芳,张泽,侯碧辉. CdGd2（WO2）4晶体的高分辨电子显微研究[J]. 电子显微学报, 2005, 24(4): 337-337 |
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| 作者姓名： | 孙威 孙桂芳 张泽 侯碧辉 |
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| 作者单位： | 1. 北京工业大学,固体微结构研究所,北京,100022
2. 北京工业大学,数理学院,北京,100022 |
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| 摘 要： | 闪烁晶体材料用上探测了X射线的能量和强度，在它全检测，各种射线检测装置的运行中起有关键性的作用。例如GdWO4是良好的闪烁晶体，对X射线吸收系数大，辐射长度短，可使高能物理探测器做得十分密集，从而降低整个谱仪的造价。近年来，由于CdWO4晶体具有优越的光学性能，使它成为了应用在XCT探测器上的首选闪烁体材料。
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| 关 键 词： | 晶体材料 显微研究 高分辨 CT探测器 电子 检测装置 闪烁晶体 闪烁体材料 X射线 |
High-resolution electron microscopy study of cadmium gadolinium tungstate crystal |
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| SUN Wei,SUN Gui-fang,ZHANG Ze,HOU BI-HUI. High-resolution electron microscopy study of cadmium gadolinium tungstate crystal[J]. Journal of Chinese Electron Microscopy Society, 2005, 24(4): 337-337 |
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| Authors: | SUN Wei SUN Gui-fang ZHANG Ze HOU BI-HUI |
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