| V2O5熔体的微量氧化还原研究 |
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| 引用本文： | 魏劲松,赵康,谷臣清.V2O5熔体的微量氧化还原研究[J].无机材料学报,2001,16(4):697-702. |
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| 作者姓名： | 魏劲松 赵康 谷臣清 |
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| 作者单位： | 西安理工大学材料科学与工程学院，西安710048 |
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| 基金项目： | 陕西省教委专项基金(99JK228);陕西省自然科学基金 |
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| 摘 要： | 将700、800、1100℃三种温度下的V2O5熔体制得V2O5溶胶，在非晶玻璃基片上将V2O5溶胶制成V2O5凝胶薄膜试样。通过对V205凝胶薄膜试样的电阻随温度的变化测试和电子能谱（ESCA）和X射线衍射分析发现V2O5凝胶薄膜中有四价钒的存在，本文从V2O5熔体的微量氧化还原和晶体结构的角度分析讨论了微量氧化还原影响钒离子价态变化的机理。
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| 关 键 词： | 溶胶－凝胶 相变薄膜 V2O5 五氧化二钒熔体 微量氧化还原 |
| 文章编号： | 1000-324(2001)04-0697-06 |
| 收稿时间： | 2000-6-7 |
| 修稿时间： | 2000年6月7日 |
Study on Miniamount Redox in Melting V2O5 |
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| WEI Jing-Song,ZHAO Kang,GU Chen-Qing.Study on Miniamount Redox in Melting V2O5[J].Journal of Inorganic Materials,2001,16(4):697-702. |
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| Authors: | WEI Jing-Song ZHAO Kang GU Chen-Qing |
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| Affiliation: | SchoolofMaterialsScience&Engineering;XianUniversityofTechnology;Xian710048;China |
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| Keywords: | sol-gel thin films V2O5 |
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