首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

LP—MOCVD生长InGaN及InGaN/GaN量子阱的研究
引用本文:刘宝林,陈松岩,等.LP—MOCVD生长InGaN及InGaN/GaN量子阱的研究[J].光电子.激光,2002,13(10):997-1000.
作者姓名:刘宝林  陈松岩
作者单位:厦门大学物理系,福建,厦门,361005
基金项目:福建省自然科学基金资助项目 (E982 0 0 0 1),国家教育部高等学校骨干教师资助计划项目资助
摘    要:利用MOCVD系统在Al2O3衬底上生长InGaN材料和InGaN/GaN量子阱结构材料,研究发现InGaN材料中In组份几乎不受TMG与TMI的流量比的影响,而只与生长温度有关,生长温度由800℃降低到740℃,In组份的从0.22增加到0.45;室温InGaN光致发光光谱(PL)峰全半高宽(FWHM)为15.5nm;InGaN/GaN量子阱区InGaN的厚度2nm,但光荧光的强度与100nm厚InGaN的体材料相当。

关 键 词:LP-MOCVD  InGaN  InGaN/GaN  量子阱  Ⅲ-V基化合物  铟镓氮三元化合物
文章编号:1005-0086(2002)10-0997-04

The Characterization of InGaN and InGaN/GaN Quantum Wells Grown by LP-MOCVD
LIU Bao lin,CHEN Song yan,WU Zheng yun,CHEN Chao,CHEN Li rong,HUANG Mei chun.The Characterization of InGaN and InGaN/GaN Quantum Wells Grown by LP-MOCVD[J].Journal of Optoelectronics·laser,2002,13(10):997-1000.
Authors:LIU Bao lin  CHEN Song yan  WU Zheng yun  CHEN Chao  CHEN Li rong  HUANG Mei chun
Abstract:
Keywords:GaN  InGaN  Metal Organic Chemical Vapor Deposition(MOCVD)  Quantum well
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
点击此处可从《光电子.激光》浏览原始摘要信息
点击此处可从《光电子.激光》下载全文
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号