| 纳米Si薄膜光学性质和弹性常数的研究 |
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| 引用本文： | 梁伟华,王秀丽,赵亚军,庞学霞,王英龙.纳米Si薄膜光学性质和弹性常数的研究[J].材料导报,2012,26(14):150-153. |
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| 作者姓名： | 梁伟华 王秀丽 赵亚军 庞学霞 王英龙 |
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| 作者单位： | 河北大学物理科学与技术学院,保定,071002 |
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| 基金项目： | 国家重点基础研究发展计划(973计划)，河北省教育厅资助项目 |
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| 摘 要： | 采用基于密度泛函理论的第一性原理的方法,对厚度为0.54～3.30nm纳米Si薄膜的电子结构、光学性质及弹性常数进行了计算。结果表明,纳米Si薄膜是直接带隙半导体材料;随着纳米Si薄膜厚度的减小,带隙逐渐增大;薄膜的光学吸收边发生蓝移,吸收带出现宽化现象;弹性常数、杨氏模量和泊松比呈现尺寸效应。
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| 关 键 词： | 纳米Si薄膜 第一性原理 光学性质 弹性常数 |
Study of Optical Properties and Elastic Constants on Nano-crystalline Silicon Thin Films |
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| LIANG Weihua
,
WANG Xiuli
,
ZHAO Yajun
,
PANG Xuexia
,
WANG Yinglong.Study of Optical Properties and Elastic Constants on Nano-crystalline Silicon Thin Films[J].Materials Review,2012,26(14):150-153. |
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| Authors: | LIANG Weihua WANG Xiuli ZHAO Yajun PANG Xuexia WANG Yinglong |
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| Affiliation: | (College of Physics Science and Technology,Hebei University,Baoding 071002) |
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| Abstract: | |
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