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| 薄层修正对扩展电阻测试结果的影响 | |
| 引用本文： | 吴晓虹,闵靖.薄层修正对扩展电阻测试结果的影响[J].上海计量测试,2000(2):38-38. |
| 作者姓名： | 吴晓虹 闵靖 |
| 作者单位： | 上海市计量测试技术研究院 |
| 摘 要： | 本文讨论选用不同薄层修正方法对扩展电阻测试数据进行修正 ,而获取正确的扩展电阻测量结果。 |
| 关 键 词： | 数据修正 薄层修正 电阻测量 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |
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