磷屏成像的计量性能测试及其在大面积平面源均匀性评价中的应用 |
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作者姓名: | 符燕 梁珺成 邹宇 杨志杰 唐泉 张明 刘皓然 赵清 |
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作者单位: | 1.南华大学 核科学技术学院,湖南 衡阳421001;2.中国计量科学研究院 电离辐射计量科学研究所,北京100029;3.北京大学 化学与分子工程学院,北京100871 |
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基金项目: | 国家自然科学基金资助项目 |
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摘 要: | 针对磷屏成像技术在放射性活度计量领域的应用需求,开展了磷屏成像响应的重复性、一致性、时间线性与活度线性研究。结果表明:成像灰度值重复性为8.6%(k=2),190mm×200mm的磷屏成像区域对于点状源的响应一致;磷屏成像的灰度值与照射的时间成正比,相同照射时间所产生的灰度值与源的发射率也成正比。以这些计量性能结果为基础,严格按照ISO 8769∶2010的均匀性评价规则对150mm×100mm的大面积源进行了均匀性测量,建立了定量和直观表达平面源均匀性的方法,从而为改善平面源的制备工艺,建立符合国际标准的大面积源计量器具提供了参考评估方法。
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关 键 词: | 磷屏成像 计量性能 大面积平面源 均匀性 |
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