| ~(75)Se和~(113)Sn的KX射线发射几率测量 |
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| 引用本文： | 张圈世,黎荫铭,常永福,阎春光,李伟. ~(75)Se和~(113)Sn的KX射线发射几率测量[J]. 原子能科学技术, 2000, 0(5) |
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| 作者姓名： | 张圈世 黎荫铭 常永福 阎春光 李伟 |
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| 作者单位： | 西北核技术研究所!陕西西安710024 |
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| 摘 要： | 用54 Mn、57Co、6 5Zn、85Sr、10 9Cd、137Cs等核素发射的KX射线和I(KX) /I(γ)比值法在 5～ 4 0keV范围内对Si(Li)探测器的效率进行了刻度 (不确定度小于 2 % )。在此基础上 ,用Si(Li)X射线谱仪系统和HPGeγ射线谱仪系统对核素75Se和113Sn的主γ射线和KX射线进行了测量 ,获得了75Se和113Sn的KX射线发射几率 ,并与文献报道值进行了比较
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| 关 键 词： | Si(Li)探测器 效率刻度 X射线发射几率 |
Measurements of the KX-ray Emission Probabilities of ~(75)Se and ~(113)Sn |
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| ZHANG Quan shi,LI Yin ming,CHANG Yong fu,YAN Chun guang,LI Wei. Measurements of the KX-ray Emission Probabilities of ~(75)Se and ~(113)Sn[J]. Atomic Energy Science and Technology, 2000, 0(5) |
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| Authors: | ZHANG Quan shi LI Yin ming CHANG Yong fu YAN Chun guang LI Wei |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Si(Li) detector efficiency calibration X ray emission probability |
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