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典型电容近炸引信发火控制部件储存寿命预测方法
作者姓名:齐杏林  王洪岩  吴英伟
作者单位:陆军工程大学石家庄校区;中国白城兵器试验中心
摘    要:针对库存典型电容近炸引信发火控制部件储存性能退化研究较少、储存质量变化规律尚不明确的问题,提出了基于储存性能试验的引信发火控制部件寿命预测方法。该方法提出了基于储存性能试验的寿命预测一般步骤,介绍了性能退化分布模型,并结合发火控制部件组成结构特点和相关性能要求,对在北方无温湿度控制的自然条件下,储存2~8年有包装筒密封和无包装筒密封的引信发火控制部件开展性能试验,从而确定发火控制部件的性能退化敏感参数,最终采用威布尔分布模型对发火控制部件进行寿命预测。预测结果表明,该发火控制部件有包装筒密封状态下储存寿命为20.707年,无包装筒密封状态下储存寿命为20.165年。

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