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| 医用同位素~(125)I放射性强度的测定 | |
| 引用本文： | 归寿造,梁渝生,王功庆,顾嘉辉.医用同位素~(125)I放射性强度的测定[J].核技术,1981(2). |
| 作者姓名： | 归寿造 梁渝生 王功庆 顾嘉辉 |
| 作者单位： | 中国科学院上海原子核研究所 (归寿造，梁渝生，王功庆)，中国科学院上海原子核研究所(顾嘉辉) |
| 摘 要： | ~(125)I是发射低能γ的同位素,衰变纲图见图1。它通过电子俘获衰变到~(125)Te的激发态(其中产生的27.5keV KX射线,分支比为68.5％),然后经γ跃迁(发射35keVγ,分支比为6.4％)或发射内转换电子(也产生 上述KX射线,分支比为66.0％)退激到基态。 测定~(125)I溶液放射性强度的较好办法是采用单晶 NaI闪烁谱仪,利用γ能谱上的符合和峰(coincident sum peak)面积来推求之,它的γ能谱见图2。在这个 衰变过程中发射的LX射线能量3.8keV,很低,谱上记 |
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