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冷冻超薄切片技术用于高分子材料的透射电镜研究
引用本文:王小曼,卢思,梁正.冷冻超薄切片技术用于高分子材料的透射电镜研究[J].电子显微学报,2022,41(2):199-204.
作者姓名:王小曼  卢思  梁正
作者单位:中国科学院广州能源研究所 分析测试中心,广东 广州510630
摘    要:高分子材料一般质地较软,有很大韧性,常规的冲击断裂断口观察主要用于扫描电镜,而透射电镜(TEM)观察要求样品厚度在100 nm以下,因而对高分子材料需经过前处理,而冷冻超薄切片适用于高分子材料的前处理,是一种有效的透射电镜制样方法.不同的高分子材料其厚度、强度、韧性、玻璃化转变温度以及吸水性都有所差别,因此材料的前处理...

关 键 词:高分子材料  透射电镜  冷冻超薄切片  前处理

Transmission electron microscopy ( TEM ) study of polymer materials by freezing ultrathin section technique
WANG Xiao-man,LU Si,LIANG Zheng.Transmission electron microscopy ( TEM ) study of polymer materials by freezing ultrathin section technique[J].Journal of Chinese Electron Microscopy Society,2022,41(2):199-204.
Authors:WANG Xiao-man  LU Si  LIANG Zheng
Abstract:
Keywords:
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