| BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用 |
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| 引用本文： | 江伴东,牛军伟,汪志成. BIST在SoC片上嵌入式微处理器核上的应用[J]. 单片机与嵌入式系统应用, 2009, 0(9) |
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| 作者姓名： | 江伴东 牛军伟 汪志成 |
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| 作者单位： | 景德镇陶瓷学院 |
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| 摘 要： | 介绍了SoC片上嵌入式微处理器核的一种测试技术--片内测试(BIST).讲述了片上系统的由来以及两个重要特点.与传统的测试方法比较后,讨论了MemBIST、 LogicBIST等常用BIST测试技术的结构和特点,分析了这几种测试方法的优缺点.
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| 关 键 词： | 片上系统 片内测试 嵌入式微处理器核 |
Application of BIST in SoC Based Embedded Microprocessor Core |
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| Jiang Bandong,Niu Junwei,Wang Zhicheng. Application of BIST in SoC Based Embedded Microprocessor Core[J]. Microcontrollers & Embedded Systems, 2009, 0(9) |
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| Authors: | Jiang Bandong Niu Junwei Wang Zhicheng |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | MemBIST LogicBIST |
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