| 高加速寿命试验(HALT)与高加速环境应力筛选(HASS) |
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| 引用本文： | 黄义龙,徐红波. 高加速寿命试验(HALT)与高加速环境应力筛选(HASS)[J]. 电子质量, 2006, 0(1): 28-30 |
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| 作者姓名： | 黄义龙 徐红波 |
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| 作者单位： | 上海贝尔阿而卡特有限公司,上海,201206 |
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| 摘 要： | 将高加速寿命试验与高加速环境应力筛选引入产品的设计、研制和生产中，可在产品批量生产前消除设计缺陷，缩减开发时间和成本，快速提高产品的可靠性并增强市场竞争力。
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| 关 键 词： | 高加速寿命试验 高加速环境应力筛选 应力 |
| 文章编号： | 1003-0107（2006）01-0028-02 |
HALT&HASS |
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| Huang Yi-long,Xu Hong-bo. HALT&HASS[J]. Electronics Quality, 2006, 0(1): 28-30 |
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| Authors: | Huang Yi-long Xu Hong-bo |
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| Affiliation: | Alcatel Shanghai Bell Co.,Ltd Shanghai 201206,China |
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| Abstract: | Eliminate the design problems before release to the manufacturing using HALT and HASS in the product research and development,and reduce development time and cost,The HALT and HASS will also improve the product reliability and enhance the competition ability. |
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| Keywords: | HALT HASS Stress |
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