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SOI LDMOS晶体管的自加热效应
引用本文:李家贵,李德昌. SOI LDMOS晶体管的自加热效应[J]. 电子科技, 2009, 22(4)
作者姓名:李家贵  李德昌
作者单位:西安电子科技大学,技术物理学院,陕西,西安,710071;西安电子科技大学,理学院,陕西,西安,710071
摘    要:与常规体硅器件相比,SOI器件由于其独特的结构,常常会产生较严重的自加热效应,影响器件的可靠性.文中阐述SOI LDMOS功率晶体管中的自加热现象,研究了自加热效应产生的机理,在不同的结构和工艺参数下自加热效应的研究进展,以及减弱自加热效应的方法.研究证明采用新材料,结构可对同加热效应起到有效抑制作用提高了件的可靠性.

关 键 词:SOI  白加热效应  自加热效应的抑制  图形化SOI

Self-heating Effect of SOI LDMOS Power Transistors
Li Jiagui,Li Dechang. Self-heating Effect of SOI LDMOS Power Transistors[J]. Electronic Science and Technology, 2009, 22(4)
Authors:Li Jiagui  Li Dechang
Affiliation:1.School of Technical Physics;Xidian University;Xi'an 710071;China;2.School of Science;China
Abstract:Compared with the devices built on bulk silicon,SOI power devices can produce serious self-heating effect because of their different structure.An overview of the self-heating phenomena in SOI LDMOS transistors is provided in this paper.The heat generation mechanisms and the research on self-heating at different structure and technological parameters are analyzed,and some methods for reducing the self-heating effect are presented.
Keywords:SOI
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