| 数字电路的层次化测试生成新趋势 |
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| 引用本文： | 薛月菊,王红,杨士元,邢建辉,邓雨春.数字电路的层次化测试生成新趋势[J].哈尔滨建筑大学学报,2003(11). |
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| 作者姓名： | 薛月菊 王红 杨士元 邢建辉 邓雨春 |
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| 作者单位： | 清华大学自动化系，清华大学自动化系，清华大学自动化系，清华大学自动化系，清华大学自动化系 北京 100084，北京 100084，北京 100084，北京 100084，北京 100084 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助重大项目(90207016). |
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| 摘 要： | 与传统的门级测试生成方法相比.数字电路的层次化测试生成方法采用层次化模块的方式,利用不同抽象级的电路信息,包括结构信息和功能信息,有利于加速测试生成,提高故障覆盖率.分析和综述了几类主要的层次化测试生成算法:预先生成低层模块测试法、模块在约束下直接生成全局测试法、高层模块动态展开法、高层软件测试与低层门级结构测试结合法等,并讨论今后有待解决的主要问题.
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| 关 键 词： | 层次化的测试生成 不同抽象级别电路信息 功能描述信息 结构描述信息 |
New tendency of hierarchical test generation for digital circuit |
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| XUE Yue-ju WANG Hong YANG Shi-yuan XING Jian-hui DENG Yu-chun.New tendency of hierarchical test generation for digital circuit[J].Journal of Harbin University of Civil Engineering and Architecture,2003(11). |
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| Authors: | XUE Yue-ju WANG Hong YANG Shi-yuan XING Jian-hui DENG Yu-chun |
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| Abstract: | In order to discuss the motivation and basic principles in hierarchical test generation,main hierarchi- cal test generation methods:(1)Precomputed test sets for low level modules;(2)Generation test for modules under high level constraints;(3)High level modules expanded dynamically;(4)Software testing combined with low level testing are discussed together with future work to develop effective hierarchical test generation. |
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| Keywords: | hierarchical test generation circuit information at different abstraction levels functional circuit information structural circuit information |
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