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溅射Cd_xHg_(1-x)Te外延层上的32×32平面红外光伏镶嵌列阵
引用本文:R.Roussille ,D.Amingual ,程开富.溅射Cd_xHg_(1-x)Te外延层上的32×32平面红外光伏镶嵌列阵[J].半导体光电,1985(1).
作者姓名:R.Roussille  D.Amingual  程开富
摘    要:用溅射淀积方法,温度在250~300℃之间,人们已成功地在(111)CdTe衬底上生长出n型Cd_xHg_(1-x)Te外延层。外延层的厚度为10~30微米,其淀积速率通常取为2微米/小时。Cd组分为0.34的Cd_xHg_(1-x)Te外延层的典型电子浓度约为2×10~(16)厘米~(-3),在77K温度下,其霍尔迁移率为20000厘米~2伏~(-1)秒~(-1)。经退火后,该膜层可转变成P型。本文首次报导在溅射层衬底上制备的背照射32×32平面红外光伏镶嵌列阵的特性。这种列阵的混合结构已经制成,并且进行了评价,已获得的初步结果表明,这种镶嵌结构完全适用于混合式焦平面。

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