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| 利用X射线荧光分析法提高铝电解质中Al2O3分析准确度 | |
| 作者姓名： | 解峰 徐文勇 |
| 作者单位： | 宁夏青铜峡铝业集团公司质监部,宁夏青铜峡市751603 |
| 摘 要： | 本文针对影响铝电解质中Al2O3分析准确度的因素加以分析。通过试样粒度和元素间谱线干扰实验。有效地提高了在X射线荧光光谱法分析铝电解质中Al2O3准确度。 |
| 关 键 词： | 粒度效应 谱线干扰 Al2O3 铝电解质 X射线荧光分析法 准确度 X射线荧光光谱法 干扰实验 |
| 本文献已被 维普 等数据库收录！ | |
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