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模态密度瞬态测试法中指数窗的应用
引用本文:伍先俊,朱石坚. 模态密度瞬态测试法中指数窗的应用[J]. 振动、测试与诊断, 2006, 26(4): 314-317
作者姓名:伍先俊  朱石坚
作者单位:海军工程大学振动与噪声研究所,武汉,430033
摘    要:由于低阻尼结构的模态频率响应曲线宽度很窄,而频谱分析仪谱线间隔有限,在其谱线间隔相对于模态导纳半功率点带宽较小时,采用结构速度导纳实部平均值测量结构模态密度的误差很大。因此分析得到准确测量模态密度的保守条件是测试仪谱线宽度小于单个模态的半功率点带宽,并在瞬态测试法的谱线间隔不能够满足这个要求时,应用指数窗增加等效阻尼,虚拟地增大模态导纳半功率点带宽,使谱线间隔条件得到满足.准确测得低阻尼板的模态密度。

关 键 词:导纳  阻尼  机械振动  模态密度  统计能量分析
收稿时间:2005-01-04
修稿时间:2005-06-27

Application of Response Window to Modal Density Testing by Impact
Wu Xianjun,Zhu Shijian. Application of Response Window to Modal Density Testing by Impact[J]. Journal of Vibration,Measurement & Diagnosis, 2006, 26(4): 314-317
Authors:Wu Xianjun  Zhu Shijian
Abstract:
Keywords:admittance damping mechanical vibration modal density statistical energy analysis
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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