| 介质Ag/AgI镀层空芯玻璃光纤中AgI薄膜厚度的计算模型 |
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| 引用本文： | 文天发,高建平,卞蓓亚,沈菊云. 介质Ag/AgI镀层空芯玻璃光纤中AgI薄膜厚度的计算模型[J]. 硅酸盐学报, 2001, 29(5): 503-506 |
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| 作者姓名： | 文天发 高建平 卞蓓亚 沈菊云 |
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| 作者单位： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
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| 摘 要： | AgI薄膜的厚度是影响介质Ag/AgI镀层空芯玻璃光纤传输损耗的一个重要因素，本研究推导出介质Ag/AgI镀层空芯玻璃光纤中AgI薄膜厚度（h)的计算模型，即c(h,t)=C0[1-2/π/2Dt0exp(-β^2)dβ]；通过热场发射Auger微探针及电子探针测试了不同工条件下所制得的介质Ag/AgI镀层玻璃空芯光纤中AgI薄膜厚度，发现测试结果与理论计算值相吻合，这为制备一定厚度AgI薄膜的介质Ag/AgI镀层空芯玻璃光纤提供了实验指导。
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| 关 键 词： | 空芯光纤 碘化银薄膜 计算模型 镀层 光纤玻璃 银 光纤传输损耗 介质 红外光纤 |
| 文章编号： | 0454-5648(2001)05-0503-04 |
| 修稿时间： | 2000-10-13 |
Calculation Model of the Thickness of AgI Film of Ag/AgI Hollow Glass Waveguides |
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| Wen Tianfa,Gao Jianping,Bian Beiya,Shen Juyun. Calculation Model of the Thickness of AgI Film of Ag/AgI Hollow Glass Waveguides[J]. Journal of The Chinese Ceramic Society, 2001, 29(5): 503-506 |
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| Authors: | Wen Tianfa Gao Jianping Bian Beiya Shen Juyun |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | hollow waveguides iodide sliver film calculation model |
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