| 利用太阳电池Ⅰ-Ⅴ特性测量其基区少数载流子寿命 |
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| 引用本文： | 马逊,刘祖明,陈庭金,廖华,屈盛. 利用太阳电池Ⅰ-Ⅴ特性测量其基区少数载流子寿命[J]. 太阳能学报, 2006, 27(9): 905-909 |
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| 作者姓名： | 马逊 刘祖明 陈庭金 廖华 屈盛 |
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| 作者单位： | 云南师范大学太阳能研究所,云南省农村能源工程重点试验室,昆明,650092 |
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| 基金项目： | 国家高技术研究发展计划(863计划) |
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| 摘 要： | 提出了一种新的测量成品太阳电池基区少子寿命的方法,这种方法在电池制备完成后进行测量.此方法还可对印刷电极后烧结这步工艺流程进行少子寿命的监控,以提供改进电极制作工艺信息.
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| 关 键 词： | 少数载流子寿命 饱和暗电流 I-V特性 |
| 文章编号： | 0254-0096(2006)09-0905-05 |
| 修稿时间： | 2005-01-20 |
MINORITY CARRIER LIFETIME IN SOLAR CELL BASE REGION BY I-V CHARACTERISTICS MEASUREMENT |
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| Ma Xun,Liu Zuming,Chen Tingjin,Liao Hua,Qu Sheng. MINORITY CARRIER LIFETIME IN SOLAR CELL BASE REGION BY I-V CHARACTERISTICS MEASUREMENT[J]. Acta Energiae Solaris Sinica, 2006, 27(9): 905-909 |
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| Authors: | Ma Xun Liu Zuming Chen Tingjin Liao Hua Qu Sheng |
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