场发射扫描电镜荷电现象的研究及参数优化北大核心CSCD |
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引用本文: | 高翔,朱紫瑞,孙伟,郭娟.场发射扫描电镜荷电现象的研究及参数优化北大核心CSCD[J].真空科学与技术学报,2018(11):1008-1012. |
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作者姓名: | 高翔 朱紫瑞 孙伟 郭娟 |
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作者单位: | 1.西北大学化学与材料科学学院710127;2.西北大学文化遗产学院710127; |
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摘 要: | 扫描电子显微镜主要用于样品显微结构的表征分析,在科研和实际工作中应用广泛。荷电现象是最常见的严重影响到SEM图像质量的现象之一,它会造成图像的反差异常、形变等,在导电性不好或很差的样品形貌表征中极为常见。文中以几种导电性较差样品,如陶瓷、倍他环糊精、Si O2、细菌等为对象,通过实验比对后发现,通过加速电压、探头选择、信号选择、图像采集方式等参数的调节能够有效减轻SEM图像的荷电现象,从而提高了图像质量,获得了更为真实的显微结构信息。
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关 键 词: | 场发射扫描电子显微镜 荷电现象 低加速电压 二次电子 |
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