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基于线阵CCD的尺寸测量装置
引用本文:高爱华,田爱玲,赵贵波.基于线阵CCD的尺寸测量装置[J].西安工业学院学报,2003,23(3):189-193.
作者姓名:高爱华  田爱玲  赵贵波
作者单位:西安工业学院光电工程学院,西安工业学院光电工程学院,西安工业学院光电工程学院 陕西西安710032,陕西西安710032,陕西西安710032
基金项目:陕西省自然科学基金(2001C55)
摘    要:研制了用单片机系统拾取线阵CCD信号的装置,从而实现了对5~25mm内的线径尺寸的非接触测量。单片机的智能化功能使系统可以自标定,剔除了系统误差的影响。外扩计数器提高了计数频率,从而提高了系统精度。

关 键 词:线阵CCD  尺寸测量装置  测量原理  非接触测量  光学系统  接口电路精度  单片机  外扩计数器
文章编号:1000-5714(2003)03-0189-05
修稿时间:2002年11月27

A dimension measuring device based on line scan CCD
Abstract:A dimension measuring device using single_chip microcomputer based on line scan CCD is introduced. The device can achieve contactless measurement of dimension from 5mm to 25mm. The system can be calibrated by itself, so system error can be eliminated. As a result of using high frequency counter circuit the instrument can achieve higher accuracy.
Keywords:contactless measurement  line scan charge coupled device  single-chip microcomputer  expanding counter
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