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氨化Si基Ga2O3/In2O3制备GaN薄膜
引用本文:薛成山,王福学,庄惠照,张晓凯,艾玉杰,孙丽丽,陈金华,秦丽霞. 氨化Si基Ga2O3/In2O3制备GaN薄膜[J]. 功能材料, 2007, 38(10): 1632-1634
作者姓名:薛成山  王福学  庄惠照  张晓凯  艾玉杰  孙丽丽  陈金华  秦丽霞
作者单位:山东师范大学,半导体所,山东,济南,250014;山东师范大学,半导体所,山东,济南,250014;山东师范大学,半导体所,山东,济南,250014;山东师范大学,半导体所,山东,济南,250014;山东师范大学,半导体所,山东,济南,250014;山东师范大学,半导体所,山东,济南,250014;山东师范大学,半导体所,山东,济南,250014;山东师范大学,半导体所,山东,济南,250014
摘    要:研究了Ga2O3/In2O3 膜反应自组装制备GaN薄膜,再将Ga2O3/In2O3膜在高纯氨气气氛中氨化反应得到GaN薄膜,用X射线衍射 (XRD),傅里叶红外吸收(FTIR),扫描电镜(SEM)和透射电镜(TEM)对样品进行结构、形貌的分析.测试结果表明,用此方法得到了六方纤锌矿结构的GaN多晶膜,且900℃时成膜的质量最好.

关 键 词:GaN  Ga2O3/In2O3  氨化  磁控溅射
文章编号:1001-9731(2007)10-1632-03
修稿时间:2007-04-13

Formation of GaN films by ammoniating Ga2O3 films on In2O3 layer eeposited on Si(111) substrates
XUE Cheng-shan,WANG Fu-xue,ZHUAN Hui-zhao,ZHANG Xiao-kai,AI Yu-jie,SUN Li-li,CHEN Jin-hua,QIN Li-xia. Formation of GaN films by ammoniating Ga2O3 films on In2O3 layer eeposited on Si(111) substrates[J]. Journal of Functional Materials, 2007, 38(10): 1632-1634
Authors:XUE Cheng-shan  WANG Fu-xue  ZHUAN Hui-zhao  ZHANG Xiao-kai  AI Yu-jie  SUN Li-li  CHEN Jin-hua  QIN Li-xia
Abstract:
Keywords:GaN    Ga2O3/In2O3    ammoniating    magnetron sputtering
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