压片制样-X射线荧光光谱法测定普硅锰硅合金中的Ti

介绍了粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定普硅锰硅合金中Ti样品的制备,压片法的颗粒效应,校准曲线的建立及拟合等问题。当Ti的质量分数分别为0.268%,其相对标准偏差分别为0.48%。该方法用于实际样品分析,分析结果与实验室内其他方法的结果吻合,一致性较好,能满足常规分析要求。