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栅极电阻对GaN MOSFET瞬态特性的影响研究
引用本文:蒋丽华,罗霞,廖勇,罗海军,龙兴明.栅极电阻对GaN MOSFET瞬态特性的影响研究[J].微电子学,2020,50(5):726-731.
作者姓名:蒋丽华  罗霞  廖勇  罗海军  龙兴明
作者单位:重庆城市管理职业学院, 重庆 401331;重庆师范大学 物理与电子工程学院, 重庆 401331
基金项目:重庆市自然科学基金面上项目(cstc2019jcyj-msxmX0490)
摘    要:为了研究栅极电阻对GaN MOSFET的开关速率和输出特性中出现振荡的影响,首先利用MOSFET的基本公式对其导通和关断时的输出瞬态电流进行了理论推导,然后通过实验平台测试GaN MOSFET的瞬态电流值,且与理论值对比,验证栅极电阻带来的影响。实验结果表明,GaN MOSFET的瞬态电流值实验值与理论值基本吻合,在导通和关断时,GaN MOSFET的输出瞬态电流和输出电流的高频震荡均随栅极电阻的增加而减小。栅极电阻从10 Ω变化到100 Ω时,导通时开关速率上升率占总开关速率上升率的84.7%,关断时开关速率下降率占总开关速率下降率的54.06%。在栅极电阻为10~100 Ω范围内,GaN MOSFET具有较快的开关速度。

关 键 词:GaN  MOSFET    栅极电阻    瞬态电流
收稿时间:2020/4/30 0:00:00

Study on Influence of Gate Impedance on Transient Characteristics of GaN MOSFET
JIANG Lihu,LUO Xi,LIAO Yong,LUO Haijun,LONG Xingming.Study on Influence of Gate Impedance on Transient Characteristics of GaN MOSFET[J].Microelectronics,2020,50(5):726-731.
Authors:JIANG Lihu  LUO Xi  LIAO Yong  LUO Haijun  LONG Xingming
Abstract:
Keywords:
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