| 一种易烧写高可靠的硅化物多晶熔丝修调电路 |
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| 引用本文： | 张琳,李静,付东兵,万贤杰,丁一.一种易烧写高可靠的硅化物多晶熔丝修调电路[J].微电子学,2021,51(2):221-224. |
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| 作者姓名： | 张琳 李静 付东兵 万贤杰 丁一 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司 第二十四研究所, 重庆 400060 |
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| 摘 要： | 多晶硅熔丝是一种单次可编程(OTP)的非易失存储单元,常用于集成电路的修调,确保电路在PVT下性能稳定.对传统熔丝修调电路进行了改进,设计了 一种常规修调电压下高可靠的硅化物多晶熔丝修调电路.该电路具有功耗低、易扩展和复用性强等优点.基于0.25μm CMOS工艺流片测试,该电路在3.3 V电压下实现了 14位DAC高...
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| 关 键 词： | 熔丝修调 硅化物多晶硅 匹配设计 |
| 收稿时间： | 2020/8/3 0:00:00 |
An Easily Blowing and Highly Reliable Silicided Polysilicon Fuse Trimming Circuit |
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| ZHANG Lin,LI Jing,FU Dongbing,WAN Xianjie,DING Yi.An Easily Blowing and Highly Reliable Silicided Polysilicon Fuse Trimming Circuit[J].Microelectronics,2021,51(2):221-224. |
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| Authors: | ZHANG Lin LI Jing FU Dongbing WAN Xianjie DING Yi |
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| Affiliation: | The 24th Research Institute of China Electronics Technology Group Corp., Chongqing 400060, P. R. China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | fuse trimming silicided polysilicon matching design |
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