| 残余应力测定的基本知识第二讲 X射线应力测定的基本原理 |
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| 引用本文： | 张定铨.残余应力测定的基本知识第二讲 X射线应力测定的基本原理[J].理化检验(物理分册),2007,43(5):263-265. |
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| 作者姓名： | 张定铨 |
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| 作者单位： | 绍兴文理学院,绍兴,312000 |
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| 摘 要： | 用X射线衍射技术来测定材料中的残余应力(或外载应力与残余应力的代数和)称为X射线应力测定.其特点是:①属于物理方法,不改变试件的原始应力状态;②理论严谨,方法成熟;③测定的是表面应力,故对材料的表层状态比较敏感,必须对测试点作恰当的表面处理;④根据特点③,可以借助于电解抛光等手段测定应力沿层深的分布.
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| 关 键 词： | 残余应力测定 X射线应力测定 X射线衍射技术 知识 原理 应力状态 物理方法 表面应力 |
| 文章编号： | 1001-4012（2007）05-0263-03 |
| 收稿时间： | 2005-12-28 |
| 修稿时间： | 2005-12-28 |
BASIC KNOWLEDGE OF RESIDUAL STRESS DETERMINATION——LECTURE No.2 BASIC CONCEPT OF STRESS DETERMINATION BY X-RAY |
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| ZHANG Ding-quan.BASIC KNOWLEDGE OF RESIDUAL STRESS DETERMINATION——LECTURE No.2 BASIC CONCEPT OF STRESS DETERMINATION BY X-RAY[J].Physical Testing and Chemical Analysis Part A:Physical Testing,2007,43(5):263-265. |
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| Authors: | ZHANG Ding-quan |
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| Affiliation: | Shaoxing College of Arts and Sciences, Shaoxing 312000, China |
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