| 利用轫致辐射X射线进行正电子分析的研究 |
| |
| 引用本文： | 张翼,杨祎罡,李元景,赵新强.利用轫致辐射X射线进行正电子分析的研究[J].核电子学与探测技术,2011,31(4):373-377. |
| |
| 作者姓名： | 张翼 杨祎罡 李元景 赵新强 |
| |
| 作者单位： | 1. 清华大学工程物理系,辐射物理及探测实验室,北京,100084;粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,清华大学,北京,100084
2. 解放军第二炮兵装备研究院,北京,100094 |
| |
| 摘 要： | 针对现有的正电子分析方法无法分析材料内部缺陷的缺点,提出了一种新的正电子分析方法--光致正电子分析.利用加速器打靶产生的轫致辐射X射线照射样品,通过光子在材料内部发生的电子对效应来产生正电子,然后测量511 keV湮没光子进行正电子分析.通过模拟计算定量研究了该方法用于正电子分析的灵敏度、屏蔽条件等问题;建立了一套实验...
|
| 关 键 词： | 正电子分析 轫致辐射X射线 电子对效应 缺陷检测 |
A New Method of Positron Analysis with Bremsstrahlung-induced X-ray |
| |
| ZHANG Yi,YANG Yi-gang,LI Yuan-jing,ZHAO Xin-qiang.A New Method of Positron Analysis with Bremsstrahlung-induced X-ray[J].Nuclear Electronics & Detection Technology,2011,31(4):373-377. |
| |
| Authors: | ZHANG Yi YANG Yi-gang LI Yuan-jing ZHAO Xin-qiang |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
