X射线测定钢中残余奥氏体含量的强度校正探讨

本文叙述了使用装有自动发散狭缝和石墨单色器的APD-15X射线衍射仪对经激光处理的GCr15进行了残余奥氏体含量的测定,处理层仅含有奥氏体和马氏体,其奥氏体含量高达22.39％。并研究了自动发散狭缝、单色器对衍射强度和残奥含量的影响。结果表明,若不采用计算机自动测量,则自动发散狭缝测得的衍射强度虽提高很多,但残余奥氏体含量反而下降,因而必须进行强度校正。单色器明显降低衍射强度,但若计算公式中包含有强度比,则试验测得的强度毋需校正,对结果不会有明显影响。在计算残余奥氏体含量时,采用本文列出的G因子或采用非单色器时的G因子均可获得令人满意的结果。