| Bl-AlN/TiN(001)界面结构与电子特性 |
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| 引用本文： | 陈东,马秀良. Bl-AlN/TiN(001)界面结构与电子特性[J]. 电子显微学报, 2005, 24(4): 349-349 |
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| 作者姓名： | 陈东 马秀良 |
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| 作者单位： | 中国科学院金属研究所,沈阳材料科学国家实验室,辽宁,沈阳,110016 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金;国家重点基础研究发展计划(973计划) |
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| 摘 要： | 立方结构AlN（Bl-AlN）具有热稳定性好和硬度高等独特的物理特性。近年来，在实验中已成功地将Bl-AlN外延生长在TiN基体上。界面特性在超晶格中的作用是非常重要的：然而，对界面材料的研究不仅要注重其显微结构和界面原子像，而且要关注其界面的电子结构和性质。
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| 关 键 词： | 界面结构 电子特性 物理特性 热稳定性 立方结构 外延生长 界面特性 显微结构 界面材料 |
Bl-AlN/TiN(001 ) interfacial structure and electronic properties |
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| CHEN Dong,MA Xiu-liang. Bl-AlN/TiN(001 ) interfacial structure and electronic properties[J]. Journal of Chinese Electron Microscopy Society, 2005, 24(4): 349-349 |
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| Authors: | CHEN Dong MA Xiu-liang |
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