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| 电感耦合等离子体-原子发射光谱法测定金属硅中铁含量的不确定度评估 | |
| 引用本文： | 王斗文,韩大卫,于华. 电感耦合等离子体-原子发射光谱法测定金属硅中铁含量的不确定度评估[J]. 计量学报, 2005, 26(1): 93-96 |
| 作者姓名： | 王斗文 韩大卫 于华 |
| 作者单位： | 1. 辽宁出入境检验检疫局,辽宁,大连,116001 2. 大连理工大学管理学院,辽宁,大连,116024 3. 大连轻工业学院数理系,辽宁,大连,116034 |
| 基金项目： | 国家商检局科学基金(K9802) |
| 摘 要： | 对电感耦合等离子体一原子发射光谱法(ICP-AES)测定金属硅中铁杂质含量的不确定度进行了合成和评估。通过建立被测对象的函数关系式Fe％=f(p,q,r,……)，对其中的影响因素p、q、r、…做全面地分析评定。在此基础上求得不确定度的合成量，保证：ICP-AES测量系统检测结果的有效性和合理性。 |
| 关 键 词： | 计量学 电感耦合等离子体-原子发射光谱法 金属硅 不确定度 |
| 文章编号： | 1000-1158(2005)01-0093-04 |
| 修稿时间： | 2003-07-21 |
Estimation of the Uncertainty for Fe in Metallic Silicon Determined by Inductively Coupled Plasmas Atomic Emissive Spectrometry |
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| WANG Dou-wen,HAN Da-wei,Yu Hua. Estimation of the Uncertainty for Fe in Metallic Silicon Determined by Inductively Coupled Plasmas Atomic Emissive Spectrometry[J]. Acta Metrologica Sinica, 2005, 26(1): 93-96 | |
| Authors: | WANG Dou-wen HAN Da-wei Yu Hua |
| Affiliation: | WANG Dou-wen~1,HAN Da-wei~2,Yu Hua~3 |
| Abstract: | |
| Keywords: | Metrology ICP-AES Metallic silicon Uncertainty |
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