电子探针定性分析图谱在锆合金/钨复合层界面处锡钨金元素判定的应用 |
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引用本文: | 黄榕深,胡晋生,魏少红,张志明.电子探针定性分析图谱在锆合金/钨复合层界面处锡钨金元素判定的应用[J].冶金分析,2023(8):17-23. |
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作者姓名: | 黄榕深 胡晋生 魏少红 张志明 |
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作者单位: | 1. 广东腐蚀科学与技术创新研究院;3. 散裂中子源科学中心 |
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摘 要: | 锆合金/钨复合材料界面性能对其最终在核材料领域的应用产生重要影响。界面处的元素扩散行为是研究其服役过程中相变的基础。为了判定锆合金/钨复合层界面是否有W元素扩散,需要甄别锆合金中微量Sn元素与W元素峰位的干扰。Au元素峰位与Sn元素的高度重合需要对Au元素做进一步判定。电子探针(EPMA)全元素定性分析图谱能够提供元素峰位干扰的重要信息。W元素的M线系及L线系分别与Zr元素的L线系及Sn元素的K线系高度重合,通过对比锆合金侧不同位置的精扫测试结果,在PET以及PETH图谱中检测到W元素的Mα、Mβ信号,确认了在复合层界面处含有W元素,而在远离界面处不存在W元素。Au元素的Mα峰与Zr元素的Lβ峰重合,同时Au元素的Lα峰位置为88.402 mm又与Sn元素的Kβ2重合。同样对比不同位置的精扫测试结果发现,采集到Au元素的X射线信号在不同位置保持一致变化。判定该材料中不含有Au元素,Au元素为误标。
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关 键 词: | 电子探针(EPMA) 波谱仪 定性分析 锆合金 元素扩散 钨 金 锡 |
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