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Zr-4合金氧化膜(<100nm)的电镜研究
引用本文:李聪,周邦新. Zr-4合金氧化膜(<100nm)的电镜研究[J]. 核动力工程, 1994, 0(2)
作者姓名:李聪  周邦新
作者单位:中国核动力研究设计院,核燃料及材料实验室
摘    要:应用透射电子显微镜(TEM),分析了Zr-4合金在350℃空气中生成的氧化膜(<100nm)。氧化膜中ZrO2的晶体结构为非晶、立方(四方)和单斜,它们所占份额与基体晶粒的取向有关。第二相粒子与周围基体构成电偶腐蚀,加速基体氧化,因而第二相粒子周围的氧化膜较厚,第二相粒子自身氧化变慢,将残留在氧化膜中。第二相粒子的氧化产物为六方(Fe、Cr)2O3、立方(四方)ZrO2和单斜ZrO2。

关 键 词:Zr-4合金,第二相,氧化膜

Electron Microscopy Investigation of Oxide Films (<100 nm) Formed on Zircaloy-4
Li Cong, Zhou Bangxin. Electron Microscopy Investigation of Oxide Films (<100 nm) Formed on Zircaloy-4[J]. Nuclear Power Engineering, 1994, 0(2)
Authors:Li Cong   Zhou Bangxin
Abstract:
Keywords:Zircaloy-4 Second Phase Oxide Film  
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