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一种双焦干涉平面微观轮廓仪
引用本文:程华山. 一种双焦干涉平面微观轮廓仪[J]. 光学仪器, 1998, 20(3): 18-23
作者姓名:程华山
作者单位:浙江大学光电信息工程系!杭州310027
摘    要:激光双焦干涉表面微观轮廓仪在测量原理上首次实现完全共路干涉和无需参考面的突破,为在加工现场对超光滑表面的实时检测提供了可能。本文论述了一种产品化的双焦干涉平面微观轮廓仪的测试原理和控制过程,着重介绍其软件的功能结构和关键算法,最后给出了和进口Wyko轮廓仪比对的结果。

关 键 词:偏振移相  电子共模抑制  人机界面  比对  重复性

A Double-focus Interference Planar Profilometer
CHENG Huashan,ZHUO Yougmo,YANG Yongyin. A Double-focus Interference Planar Profilometer[J]. Optical Instruments, 1998, 20(3): 18-23
Authors:CHENG Huashan  ZHUO Yougmo  YANG Yongyin
Abstract:Laser Double-focus Interference Profilometer first makes a breakthrough in totally common path interference without reference surface. The principle and control processo f a Double-focus Interference Planar Profilometer is introduced in this article,paying moreattention to its software structure and the key algorithm. Finally we give the results of thecomparisom with Wyko profilometer.
Keywords:Polarization phase shift. Electronic Common Mode Rejection   Interface between Human and machine Comparison Repetibility
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